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SEMILAB WT-2000PV, µ-PCD, Messgerät für die Solarzellenherstellung

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Artikel: "SEMILAB WT-2000PV, µ-PCD, Messgerät für die Solarzellenherstellung"
Semiconductor Physics Laboratory, Inc. Messgerät für die Solarzellenherstellung, WT 2000PV, µ PCD
 
Modell: WT2000PV
Typ: µPCD
Zustand: Gebraucht
 
 
Allgemeines:
Tischmesssystem für verschiedene Messungen an Photovoltaikzellen, Wafern und Modulen. Das angebotenen System umfasst Overhead-Funktionalität und die Messung der Trägerlebensdauer.
 
µ-PCD: Trägerlebensdauer
Gemessener Parameter: Trägerlebensdauer
 
Merkmale und Systemspezifikationen:
Wafergröße: bis zu 300 mm mit blanker oder dielektrisch beschichteter Oberfläche
Wafer-Handhabung: manuell oder Semilab-Indexer
Beladungsoptionen:
100-200 mm Kassetten-Indexer
300 mm 13 Slot Kassetten-Indexer, einschließlich offener Kassetten für 100-300 mm Wafer
300 mm 25 Slot Kassetten-Indexer, einschließlich FOUP, FOSB, und offene Kassetten für 100-300 mm Wafer
Proben: np-Übergang (implantiert, getempert)
 
Achtung:
Der Rechner mit Software ist nicht Bestandteil dieses Angebotes. Diese Komponenten müssen separat erworben werden.
 
Zubehör:
Wafer Carrier Entegris RA156
Wafer Carrier Halter zur seitlichen Montage am Gerät
Schnellstartanleitung (Auszug aus dem Manual - Kapitel 6 in gedruckter Form)
 


Wichtiger Hinweis:
Im Lieferumfang enthalten sind nur Artikel und Zubehör, welche auch ausdrücklich in der Artikelbeschreibung aufgelistet oder auf den Fotos zu sehen sind. Sollten Sie Fragen zu Artikeln haben oder weitere Fotos benötigen, kontaktieren Sie uns bitte vor der Kaufbestätigung.
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