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ASML 4022.639.24693, Yieldstar S-200B / T-200, Overlay-Messsystem
Bruttopreis 117.265,35 €
98.542,31 € *
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| Artikel-Nr.: | LW43264 |
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| Garantie: | 60 Tage |
| Artikelzustand: | Gebraucht |
| Lagerbestand: | 1 |
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Artikel: "ASML 4022.639.24693, Yieldstar S-200B / T-200, Overlay-Messsystem"
Advanced Semiconductor Materials Lithograph Holding N.V. Overlay-Messsystem, 4022 639 24693, Yieldstar S 200B T 200
Modell: 402263924693
Typ: YieldstarS200BT200
Zustand: Gebraucht
Technische Daten:
Overlay measurement system
Allgemeines:
Wafer-Prüfung und -Messtechnik
mit
ASML YieldStar T-200C ist ein Wafer-Prüf- und -Messtechnikgerät, das für Halbleiteranwendungen entwickelt wurde und eine präzise räumliche Auflösung und Bildqualität bietet. Es ermöglicht genaue Messungen kritischer Wafer-Parameter, wie z.B. Größe, Form, Dicke, Widerstand und Zusammensetzung. Es ist ein vielseitiges Gerät, das eine Vielzahl von Waferstrukturen messen kann, einschließlich MEMS und fortschrittliche Gehäusekomponenten.
- 9426.999.46070
- 4022.639.24693
- 4022 536.58202
- 4022.639.21422
- 4022.639.48292
- 4022.639.45393
Wichtige Hinweise:
Im Lieferumfang enthalten sind ausschließlich die in der Artikelbeschreibung aufgeführten sowie auf den Produktfotos dargestellten Teile und Zubehörartikel. Sollten Sie Fragen zum Lieferumfang haben oder zusätzliche Fotos wünschen, kontaktieren Sie uns bitte vor Abschluss des Kaufs.
Dieser Artikel wurde vor dem 13.12.2024 in Verkehr gebracht. Daher unterliegt er nicht den zusätzlichen Kennzeichnungspflichten gemäß der neuen EU-Verordnung über die allgemeine Produktsicherheit (GPSR). Bei Fragen steht Ihnen unser Kundenservice jederzeit gerne zur Verfügung.
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